Eclipse RCP的AutoIt测试

Ult*_*ter 6 testing user-interface swt autoit eclipse-rcp

我正在努力进行AutoIt回归测试.选择AutoIt是因为要求是100%黑盒GUI测试(不对测试项目进行干预).然而,这个解决方案遇到了一些问题,我需要帮助.

  • 更改应用程序中的选项卡 - 因为GUI类不是SysTabControl32,而是SWT_Window,因此来自GUITab.au3 UDF的示例代码不起作用.当前的解决方案是关注组件,然后使用箭头键浏览选项卡.这对测试性能有不良影响(我甚至不想想将来某些选项卡被禁用的可能性).

  • 超时 - 当标签发生变化时,测试必须延迟才能继续.延迟越短,测试失败的可能性就越大(应用程序尚未准备好继续测试).这会导致行动前的大幅延迟.

  • 实例编号 - 识别控件实例是一个问题.当我写了一些测试按钮时,OK它有实例编号9.当一些按钮添加到表单时,我不得不重写测试,因为OK按钮的实例编号因此而改变.

这三个是最重要的.

由于大量已经编写的测试,改变测试技术将很难.但我想以更好的方式编写新测试.Sikuli在从屏幕获取文本时遇到问题,而SWTBot在测试项目中具有依赖性.

我们的测试运行了20个小时,当GUI布局发生变化时,我需要编辑几乎每个测试(实例编号问题).任何人都可以为超可靠的黑盒测试提出解决方案或解决方案吗?