Java Card小程序EEPROM与RAM测试

Question

Java Card小程序中的一个典型错误是将持久性内存用于应该在RAM中的临时变量.

这些错误可能会减慢applet的速度并导致一些严重的问题(例如EEPROM损坏的症状).

单元测试很难揭示这些错误.单元测试将applet作为黑盒子访问,他们所能做的就是检查给定输入的输出.当然,它们可以测量时间并报告可疑的慢速命令,但是覆盖持久存储器中的单个字节几乎与覆盖RAM中的单个字节的时间相同.

有没有办法摆脱这些错误(编码时要小心)？我可以以某种方式检测EEPROM更改以及在处理特定APDU时完成了多少次更改？

当然,一个好的模拟器可以完成这项工作.但是,JCardSim(www.jcardsim.org)和恩智浦JCOP工具似乎都远远无法报告EEPROM使用情况统计数据.

你知道其他任何可以帮助我的工具或测试技术吗？

Answer 1

可以实现测试命令并添加测试场景，这将返回可用内存。这可以通过以下方式实现getAvailableMemory(byte memoryType);