badblock的两种无损检测的优缺点是什么？

Question

我badblocks用来测试我用来启动 RPi 的 32GB class-10 microSD 卡。我已经有一个正常运行的文件系统，所以我不想用-w选项（破坏性读写测试）扫描它。

我有两个选择：我可以使用默认的只读测试，或者我可以使用非破坏性读写测试（通过备份扇区，破坏性地测试它，然后恢复扇区的原始内容来完成）。

选择测试类型时应该考虑什么？我希望它尽可能快，但我也需要准确的结果。

Answer 1

只读测试只读取。这基本上是几乎所有事情的默认测试方法，与磁盘用于 SMART 自检的方法几乎相同。

无损读写测试的工作原理是覆盖数据，然后读取验证，然后再写回原始数据。验证写入数据是否有效的唯一方法是实际写入数据，没有只读测试会为您做到这一点。

只做读测试的人（大多数，仅仅是因为写测试需要至少两倍的时间）只是真诚地相信，当阅读有效时，写作（以及能够读取后来写入的数据）可能也会有效.

但是，非破坏性是相对的......毕竟，写入本身可能会破坏它（在写入周期有限的介质上），一旦损坏，也无法将原始数据写回，因此即使测试是非破坏性的，如果您的硬件出现故障，它可能仍会丢失一些额外的数据。

因此，如果您希望恢复介质上的数据，则不应使用坏块。尤其是如果您已经知道它会变坏……如果您还没有备份，请ddrescue直接执行。这也恰好是一个只读测试，日志文件会告诉你错误区域在哪里......