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我们正在编译嵌入式C/C++应用程序,该应用程序部署在受电离辐射轰击的环境中的屏蔽设备中.我们正在使用GCC和ARM进行交叉编译.部署后,我们的应用程序会生成一些错误的数据,并且比我们想要的更频繁地崩溃.硬件专为此环境而设计,我们的应用程序已在此平台上运行了数年.

我们可以对代码进行更改,还是可以进行编译时改进,以识别/纠正由单个事件干扰引起的软错误和内存损坏？是否有其他开发人员能够成功地减少软错误对长期运行的应用程序的有害影响？