这是问题所在:我有许多由不同厚度的痕迹组成的二进制图像.下面有两张图片来说明问题:


我需要的是测量图像中痕迹的平均厚度(以像素为单位).实际上,图像中痕迹的平均厚度是一种有点主观的度量.所以,我需要的是一个与轨迹半径有一定关系的度量,如下图所示:

由于该措施不需要非常精确,我愿意以精确度换取速度.换句话说,速度是解决这个问题的重要因素.
痕迹中可能存在交叉点.
迹线厚度可能不是恒定的,但平均测量值是可以的(即使最大迹线厚度是可接受的).
跟踪总是比它宽得多.
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