虽然有很多单元测试框架支持C,但我对如何为微控制器代码编写单元测试感到有点困难(在我的情况下是PIC,但我认为问题比这更普遍).
为微控制器编写的大部分代码都围绕将配置和数据值写入寄存器,从寄存器读取输入数据以及响应中断事件.我想知道是否有人可以提供一些最有效的方法指针.
有没有人成功地直接在嵌入式硬件上进行测试?
具体来说,我正在考虑为硬件层模块自动化一系列单元测试.我们需要对硬件层代码更有信心.我们的很多项目都使用中断驱动的定时器,ADC,串行io,串行SPI器件(闪存)等.
这甚至值得努力吗?
我们通常针对:
处理器:8位或16位微控制器(某些DSP的东西)
语言:C(有时是c ++).