Qui*_*ome 7 hardware testing diagnostics
免责声明:我(大多数)硬件无知.这可能是我的问题.但是我发现很难接受调试硬件是不可能的,所以我只想得到一些第二意见.
我们有一个问题.某些操作(在运行时交换Usb设备)可能会破坏Usb板上的Usb集线器或芯片(它是自定义硬件).这是一个模糊的问题(它看起来的"blownness"的程度可能会略有不同),问题表现在与各种症状间歇时装非常难以准确地再现(数据包通常随机损坏).
这导致难以确定新报告的问题是由于该硬件故障还是实际上是软件中的错误.我们已经在这些设备上实施了保护,但如果未受保护的设备与受保护的设备一起使用,则可能会污染(现在受保护的)设备.其中一个端口也没有受到保护,这意味着有人仍然可以" 意外地"使用错误的端口"杀掉"一个应该安全的设备.
这样做的结果是,如果不完全替换所有硬件,我们无法分辨出哪个设备会遇到这个问题(我们已经为大多数生产硬件咬了一口气但是仍然有很多开发和QA硬件在那里这个问题).
我想可能有一种硬件可以使用某种硬件诊断工具确定套件是否有故障.我生活在一个梦幻世界吗？我的硬件部门告诉我,唯一可以证明错误的测试是软件测试......但正如我所说,症状很难再现.由于我不熟悉硬件,我不知道这是否是唯一的答案.因此,我问世界.
内置测试设备用于执行内置测试
BIT的BITE
(不涉及字节.)
对于军事/航空航天设备而言,拥有额外的硬件来进行自我测试是完全正常的.
最初的IBM PC内置了大量令人惊讶的测试硬件.
对于您的设备,测试设备和一些统计分析可以解决问题.这可以在加密狗的硬件中完成,但坦率地说,使用某些软件会更容易.使用两个背靠背USB到RS232串行转换器来制作USB环回设备.发送大量数据,校验和数据包并测量错误率.
我假设您的错误发生在in-> out以及out- <in side.
真的,你的硬件人员需要查看一些应用笔记; USB IS热插拔安全IF如根据本书完成.有一个很酷的例子就是将USB芯片连接到电路板的光耦合,以防止这种情况发生.USB芯片连接到主机,由主机供电,USB芯片的接口是SPI,后者光耦合到板的其余部分.
至于你,芯片部分失败了.受伤的设备可能会工作几个月然后死亡.静电放电("静态消除")可以做与您描述的相同的事情.设备可能会因震动太小而无法感受到.
半导体中的导线和特征是微观的,并且容易被杂散电流损坏.如果硬件设计大部分是正确的,那么当您处理插拔设备时,您所经历过的问题的可能原因就是ESD.你的设备有它自己的电源,它的地电压相对于USB电缆的另一端浮动,直到连接完毕.
希望这可以帮助.