几周前，我购买了一台新的 Western Digital Elements 3TB。
像往常一样，我做了所有 SMART 测试，然后是坏块，然后再次进行 SMART 测试。
当我第一次拿到驱动器时，SMART 显示了以下内容：
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 7) minutes.
然后我运行了一个简短的 SMART 测试和一个长时间的 SMART 测试，结果正常：
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Extended offline Completed without error 00% 0 -
# 2 Short offline Completed without error 00% 0 -
然后，我运行了完整的badblocks 破坏性写入测试，没有显示坏块。
然后，我运行了另一个 SMART 简短自检，结果也正常：
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed without error 00% 261 -
# 2 Extended offline Completed without error 00% 0 -
# 3 Short offline Completed without error 00% 0 -
然后我再次进行了长时间的 SMART 测试，即使在 24 小时后，它仍然停留在 90% 上！
Self-test execution status: ( 249) Self-test routine in progress...
90% of test remaining.
在此期间的某个时刻，延长的自检例程时间已从 7 分钟更改为682 分钟！
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 682) minutes.
我将其退回，认为这只是驱动器的故障，但替换件（也是新的）在相同的序列后显示完全相同的错误。
我已将此问题发布到 WD 社区，但没有得到回复。
这是驱动器的批次问题（例如错误的 EEPROM 命令）还是已知问题（例如，SMART 固件因长序列 0xff 导致溢出？）？我应该返回并重试还是更换为不同的品牌/型号？