Mic*_*hel 42 hard-drive smart smartctl
我只是尝试在我的硬盘上运行测试,但它不想完成自测。结果如下:
smartctl --attributes --log=selftest /dev/sda
smartctl 6.2 2013-07-26 r3841 [x86_64-linux-3.13.0-32-generic] (local build)
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 200 200 051 Pre-fail Always - 697
3 Spin_Up_Time 0x0027 206 160 021 Pre-fail Always - 691
4 Start_Stop_Count 0x0032 074 074 000 Old_age Always - 26734
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 200 200 140 Pre-fail Always - 0
7 Seek_Error_Rate 0x002e 200 200 000 Old_age Always - 28
9 Power_On_Hours 0x0032 090 090 000 Old_age Always - 7432
10 Spin_Retry_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0
11 Calibration_Retry_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0
12 Power_Cycle_Count 0x0032 097 097 000 Old_age Always - 3186
191 G-Sense_Error_Rate 0x0032 001 001 000 Old_age Always - 20473
192 Power-Off_Retract_Count 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 84
193 Load_Cycle_Count 0x0032 051 051 000 Old_age Always - 447630
194 Temperature_Celsius 0x0022 113 099 000 Old_age Always - 34
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 16
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 253 000 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 0
200 Multi_Zone_Error_Rate 0x0008 100 253 000 Old_age Offline - 0
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed: read failure 90% 7432 92290592
# 2 Conveyance offline Completed: read failure 90% 7432 92290596
# 3 Conveyance offline Completed: read failure 90% 7432 92290592
# 4 Short offline Completed: read failure 90% 7431 92290596
# 5 Extended offline Completed: read failure 90% 7431 92290592
Run Code Online (Sandbox Code Playgroud)
那么这个磁盘失败了吗?
Mad*_*ter 43
你的驱动很乐意做自检;从总结来看,它在过去的一个小时内已经完成了其中的五个。所有这些都失败了,在测试的早期,读取错误。
是的,这个硬盘坏了。正如著名的 Google Labs 报告所说(尽管我目前无法提供指向它的链接),如果smartctl
说您的驱动器出现故障,那可能是(我解释一下)。
编辑:不要试图保存它。取下所有数据,然后替换它。
bwD*_*aco 10
为了回答您的问题,失败的 SMART 测试是即将发生驱动器故障的可靠迹象。您应该尽快备份数据并更换驱动器,以防止潜在的数据丢失。
@sj0h 提到了负载循环计数,非常高,为 447,630。(大多数现代硬盘驱动器设计为可承受 600,000 次加载/卸载循环。)这通常是由高级电源管理 (APM) 功能引起的,该功能试图通过在几秒钟后停放磁头(从盘片中卸载它们)来节省电量。闲置的。需要时将磁头装回到盘片上。在大多数系统上,硬盘驱动器会出现断断续续的断断续续的活动,这可能会导致发生大量加载/卸载循环。要关闭 APM,请在 root 提示符下运行以下命令:
smartctl -s apm,off /dev/sda
Run Code Online (Sandbox Code Playgroud)
每次系统重启或进入睡眠状态或驱动器以其他方式关闭时都需要运行此命令,因为在驱动器关闭时不会保留此设置。
根据我的经验,这样做将大大减少加载/卸载周期的数量,从而减少您将来再次遇到此类故障的机会。但是请注意,这样做会增加功耗和驱动器温度。如果驱动器持续在超过 50 °C 的温度下运行,则过早发生故障的风险会增加,因此您可能希望在温暖的月份保持 APM 开启(如果关闭则将其打开)。