我的 SSD 现在有 226 个坏扇区。这很重要吗？

Question

Ubuntu 13.04。我的 SSD 上的坏道数量稳步增加，直到今天有 226 个坏道。

问题是，我不知道 226 个坏扇区是 SSD 的 0.0001%、SSD 的 1% 还是 SSD 的 99%。

今天早上我在互联网上找不到任何东西来回答这个问题。

在磁盘实用程序不告诉我，要么，我无法找到SMART数据的信息。

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sudo smartctl -a /dev/sda 显示这个：

smartctl 5.43 2012-06-30 r3573 [x86_64-linux-3.8.0-31-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-12 by Bruce Allen, http://smartmontools.sourceforge.net

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model:     Samsung SSD 840 PRO Series
Serial Number:    S1ATNEAD645474H
LU WWN Device Id: 5 002538 5503c15c0
Firmware Version: DXM05B0Q
User Capacity:    256,060,514,304 bytes [256 GB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Device is:        Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is:   8
ATA Standard is:  ATA-8-ACS revision 4c
Local Time is:    Fri Jan 24 20:37:08 2014 CST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x00) Offline data collection activity
                                        was never started.
                                        Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                                        without error or no self-test has ever
                                        been run.
Total time to complete Offline
data collection:                (53956) seconds.
Offline data collection
capabilities:                    (0x53) SMART execute Offline immediate.
                                        Auto Offline data collection on/off support.
                                        Suspend Offline collection upon new
                                        command.
                                        No Offline surface scan supported.
                                        Self-test supported.
                                        No Conveyance Self-test supported.
                                        Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003) Saves SMART data before entering
                                        power-saving mode.
                                        Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                                        General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time:        (   2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:        (  20) minutes.
SCT capabilities:              (0x003d) SCT Status supported.
                                        SCT Error Recovery Control supported.
                                        SCT Feature Control supported.
                                        SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   097   097   010    Pre-fail  Always       -       238
  9 Power_On_Hours          0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       1331
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       341
177 Wear_Leveling_Count     0x0013   097   097   000    Pre-fail  Always       -       75
179 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Tot   0x0013   097   097   010    Pre-fail  Always       -       238
181 Program_Fail_Cnt_Total  0x0032   097   097   010    Old_age   Always       -       238
182 Erase_Fail_Count_Total  0x0032   100   100   010    Old_age   Always       -       0
183 Runtime_Bad_Block       0x0013   097   097   010    Pre-fail  Always       -       238
187 Reported_Uncorrect      0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0032   067   062   000    Old_age   Always       -       33
195 Hardware_ECC_Recovered  0x001a   200   200   000    Old_age   Always       -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x003e   099   099   000    Old_age   Always       -       1
235 Unknown_Attribute       0x0012   099   099   000    Old_age   Always       -       128
241 Total_LBAs_Written      0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       33308592070

SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged

SMART Self-test log structure revision number 1
No self-tests have been logged.  [To run self-tests, use: smartctl -t]


SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
  255        0    65535  Read_scanning was never started
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

Answer 1

我们SSD的智能数据显示您使用SSD 1331小时，您的SSD遭受了33308592070*512/1024^4=15,5 TiB写入。这意味着大约。在您的 SSD 上，每个开机小时写入 12 GiB。对于典型的消费者 SSD 使用来说，这有点多。你用SSD做什么？

您仍然远低于 SSD 的写入周期限制，这是基于 MLC 的，因此应该容忍大约。3000 个写周期，这意味着大约。256GB*3000=768 TB 写入。所以我会说你是安全的。

但是您的 SMART 数据显示，现在您已经有 238 个重新分配（失败）的扇区。与驱动器上的几亿个扇区相比，这个数字仍然很低，但对我来说，令人惊讶的是，仅在 60-70 个写入周期后，您的 SSD 就会出现故障块。你的 SSD 上有空闲空间吗？SSD 需要一些备用空间才能有效管理驱动器上的磨损。如果驱动器快满了，它会因为磨损均衡算法的写入增加而磨损得更快。

这是一张图表，显示了正在写入测试的 840 PRO 256 GB SSD。在 300 TB 写入后，它仍然有零，或非常接近零重新分配的扇区。在不到 20 TB 之后，您有 200 多个。

您正在使用驱动器的最新固件。我不想让您担心，但我认为您应该通过 SMART 输出联系三星，并询问他们的意见。我认为您的驱动器存在某种问题。

更新：

在三星的回应之后——他基本上说一切都很好——我会说只要你没有遇到数据丢失，（只要在写操作期间发现坏块），我认为你不应该担心。

您可以在Runtime_bad_block行（238，Raw 值）中看到 badblock 计数，它是Program_Fail_Cnt_Total（238，这是失败的写操作）Erase_Fail_Count_Total（0，这是失败的擦除操作）和失败的读取的总和操作。因此，在生成智能输出时驱动器上的失败读取操作是 238-238-0=0，因此您没有任何读取失败，也没有任何数据丢失。

如果您的驱动器开始遭遇失败，在不久的将来读书太多（这意味着Runtime_bad_block将不等于Program_Fail_Cnt_Total + Erase_Fail_Count_Total），潜在的数据丢失，我会再次与三星。在那之前，尽情享受您的 SSD。